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CX-9800 DUA手持激發槍雙激發臺直讀光譜分析儀

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<<<——CX-9800 DUA光譜分析儀介紹——


CX-9800 DUA手持激發槍雙激發臺直讀光譜儀憑借其高性能及可靠設計,以及創新光學系統和擴展的波長范圍,可確保對重要元素的精確鑒定,CX-9800  DUA光譜儀采用雙激發臺結構,在固定的火花臺旁邊,配備一個額外的激發槍,可應用于金屬樣品的元素定量分析及牌號鑒定。光譜范圍覆蓋典型材料。

儀器裝備有氬氣沖洗火花臺和激發槍,適合不同形狀和尺寸的樣品分析。專業檢測C,P,S,B等非金屬元素又不方便切割的大型金屬構件。已逐漸成為金屬制造業,加工業及鑄造業的重要選擇。

創想儀器CX-9800 DUA直讀光譜儀的檢測波長范圍達到130-800nm、160-800、200-800三種規格,無論從檢測下限到檢測上限都在CCD/CMOS光譜領域處于很高地位。


CX-9800 DUA直讀光譜儀結合了帶優化像素分辨率(10pm)的創新CCD/CMOS 固態檢測器技術,最新的光柵分光技術,代表了數碼時代的直讀光譜技術。

真空分光系統由于采用多塊線陣CCD/CMOS作為檢測器,具有高達2400x8條像素,實現分析波段內的全譜接收。各個元素分別采用多條譜線分析,綜合輸出,動態范圍大,結果準確。放置的CCD/CMOS探測器滿足分析波段內的所有譜線接收無一遺漏,實現同一元素多條譜線同時測定,自動選擇輸出。

針對等離子態光譜信號的觀測特點,為了獲取最佳的觀測角度以獲得精確的分析數 據,創想儀器將光室進行了特定角度的傾斜放置,這一設計在CCD/CMOS光譜中是以前沒有的。

CX-9800 DUA通過在直接光路入射窗口上應用特殊材料,使儀器能夠自如的進行超低紫外波段(VUV)光譜信號的分析。


CX-9800 DUA光譜儀采用了特殊的真空光室系統設計,與傳統的充氬式光室系統相比,其優勢是巨大的。首先,在儀器非工作狀態下不需要實時的對光室進行氬氣吹掃,大 大降低了氬氣的使用量,節約了客戶的使用成本。其次,創想儀器的真空光學系統保證了儀器在冷啟動(關機重啟)狀態下30分鐘即可達到穩定工作狀態,而傳統的充氬式光室系統需要1-2小時才能達到穩定的工作狀態。CX-9800 DUA由于需要探測超低紫外波段光譜信號,因此一個設計優異并且性能穩定的真空系統十分重要的。

CX-9800 DUA上加載的真空系統通過最新一代的真空泵進行工作,同時配有安全電磁閥,最大限度地保證真空系統的安全性。

CX-9800 DUA的真空系統可根據客戶指定加載真空度。通過工作軟件數字顯示出來,實時了解真空光室的工作狀態。

<<<——CX-9800 DUA光學系統——


帕邢-龍格結構

羅蘭圓光學系統

● 光柵焦距:400mm

● 波長范圍:130–800nm、160–800nm、200–800nm三種規格

● 探測器:多塊高性能線陣CCD/CMOS

● 光室溫度:自動控制恒溫:34℃±0.5℃

● 像素分辨率:10pm

● 直入射窗口及光纖入射窗口,方便清洗及更換

● 優秀的漂移校正功能得益于自動尋峰功能(精確度達到0.1像素)

● 紫外波段靈敏度,得益于全新改良的真空技術



<<<——CX-9800 DUA數字等離子發生器——


全數字等離子火花光源技術



● 高效得益于緊湊的設計和半導體控制技術

● 高能預燃技術(HEPS)

● 激發參數可通過用戶界面由用戶根據實際需求自定義進行設置

● 頻率100–1000Hz

● 電流1-80A

<<<——CX-9800 DUA優化樣品臺——

● 開放式樣品臺設計,滿足大樣品測試要求

● 4mm樣品臺分析間隙

● “噴射電極”技術輕松應對小樣品及復雜幾何形狀樣品

● 低氬氣消耗,待機時:無須待機流量

● 定制異性樣品適配器

● 不同基體無須更換火花臺

● 優化的雜質排出系統

● 牢固的銅制樣品臺散熱效果極佳


<<<——CX-9800 DUA光譜分析儀應用領域——

CX-9800 DUA光譜儀采用雙激發臺結構,在固定的火花臺旁邊,配備一個額外的激發槍,可應用于金屬樣品的元素定量分析及牌號鑒定。光譜范圍覆蓋典型材料。儀器裝備有氬氣沖洗火花臺和激發槍,適合不同形狀和尺寸的樣品分析。專業檢測C,P,S,B等非金屬元素又不方便切割的大型金屬構件。

廣泛應用于冶金、鑄造、機械、汽車制造、航空航天、兵器、金屬加工等領域的生產工藝控制,中心實驗室成品檢驗。

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